ZEISS INSPECT Optical 3D 2025

Mit dieser Version bieten wir einen intuitiven, aufgabenorientierten Arbeitsablauf für Oberflächendefekte, der neue Möglichkeiten eröffnet – ganz ohne Programmierung. Für als Elemente definierte Defekte sind vielfältige Inspektionen möglich. Die Software entfernt Nicht-Defekte durch Schwellenwerte und Filter. Durch Oberflächendefektkurven für große Flächen wird die Berechnungszeit reduziert.

Mit dieser Version werden die neuesten ISO und ASME-Normen für Form- und Lagetoleranzen für das gesamte Projekt unterstützt. Zu den Erweiterungen gehören neue integrierte GD&T-Expertenfilter für Fitting-Elemente und PMI-Verbesserungen wie TED, Datenmanagement und Verarbeitung von (komplexen) Bezugsystemen.

Möchten Sie ein Tag mit speziellen Kriterien vordefinieren? Mit dieser Version wird dies noch einfacher. Elemente können parametrisch zum Tag hinzugefügt oder daraus entfernt werden, was die Rückverfolgbarkeit ermöglicht. Filtern Sie z.B. nach Namen, nach Bereichen oder dem Toleranzstatus.

Mit dieser Version werden Cluster parametrisch und die Bearbeitung bestimmter Cluster ist möglich. Sie befinden sich jetzt im Explorer unter einer eigenen Kategorie. Profitieren Sie von der vollständigen Rückverfolgbarkeit von parametrischen Clustern.

Ein einziges Projekt kann nun Daten von mehreren Sensoren verarbeiten. Sowohl ein ATOS-Sensor als auch ein Lasersensor können z.B. in denselben Projekten Daten erfassen und ein einzelnes Netz erzeugen. Mit der ScanBox Serie 8 und anderen Doppelroboterzellen ist es auch möglich, über einen einzigen PC zu arbeiten. Alle Projekte können von einem einzigen PC aus ausgeführt werden, was die Zykluszeit erheblich reduziert.

Mit der neuesten Version der Software wurden zahlreiche Verbesserungen der Scripting-Geschwindigkeit und -Funktionalitäten vorgenommen. So wurden beispielsweise Scripting-Diagramme hinzugefügt, die den Import externer Bibliotheken ermöglichen, um Ergebnisse auf benutzerdefinierte Weise darzustellen.