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ZEISS O-INSPECT duo

ZEISS O-INSPECT duo

Mikroskop und Messgerät in einem

ZEISS O-INSPECT duo bietet zwei Technologien in einer Maschine: Große Werkstücke wie Leiterplatten, Brennstoffzellen oder Batterien können sowohl messtechnisch überprüft als auch in hoher Auflösung ohne Zerschneiden inspiziert werden. Die Kombination aus 3D-Messtechnik und mikroskopischer Inspektion steigert die Effizienz und spart Platz in Qualitätslaboren. ZEISS O-INSPECT duo ist in der Größe 8/6/3 verfügbar.

  • 2-in-1: Mikroskop und Messgerät in einer Maschine
  • Schnelle und präzise 3D-Messungen – optisch und taktil
  • Hochauflösende Optik mit zusätzlicher Inspektions-Software ZEISS ZEN core
O-INSPECT duo
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Das erste Multi-Technologie System von ZEISS

ZEISS O-INSPECT duo deckt als Messmikroskop zwei essenzielle Anwendungsgebiete in der Qualitätssicherung ab: Das präzise Messen und das hochauflösende Inspizieren großer, oder vieler kleiner Bauteile. Das Gerät wurde zudem speziell für Anwendungen entwickelt, bei denen die Kombination von dreidimensionaler Messung und Inspektion notwendig wird – einschließlich Segmentierung, Stitching und Bildverarbeitung am Farbbild. Dafür wird in Qualitätslaboren statt Messgerät und Mikroskop nun lediglich eine Maschine benötigt; das spart Platz und Systemkosten. Erfahren Sie, welche weiteren Vorteile das multifunktionale Gerät für die jeweiligen Bereiche mitbringt.​
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Messtechnik
Mikroskopie
Hochpräzise Messungen – taktil und optisch
MESSTECHNIK

Hochpräzise Messungen – taktil und optisch

Hohe Genauigkeit für flache und empfindliche Werkstücke

ZEISS O-INSPECT duo ist ein Multisensor-Messgerät und überzeugt durch eine hochauflösende Optik gepaart mit dem taktilen Scanning Sensor ZEISS VAST XXT. Der taktile Sensor ermöglicht schnelle und präzise 3D-Messungen, indem eine große Anzahl von Messpunkten in einer einzigen Bewegung aufgenommen wird. ​

Empfindliche Bauteile können mit ZEISS O-INSPECT duo berührungslos gemessen werden – und das mit exzellenter Genauigkeit und einer deutlichen Reduzierung der Messzeit durch ZEISS VAST probing (ZVP). Möglich ist das dank der hohen Auflösung bei einem sehr großen Arbeitsabstand nicht nur für flache Werkstücke oder Proben.

Oberflächeninspektion und Messung an einer Maschine
MESSTECHNIK

Oberflächeninspektion und Messung an einer Maschine

Heute KMG, morgen Mikroskop

Bei vielen Werkstücken ist neben der Prüfung von Maß, Form und Lage auch eine Oberflächeninspektion notwendig. Wo bisher zwei separate Geräte für Messung und Inspektion eingesetzt wurden, bietet ZEISS O-INSPECT duo nun eine 2-in-1 Lösung. Durch die intuitive Bedienung des Geräts und den hochauflösenden 5 MP Discovery.V12 scout 160 c Farbkamerasensor mit 12-fach Zoom Objektiv sind nun auch Inspektionsaufgaben am Messgerät abbildbar. Neben der gewohnten Verwendung mit ZEISS CALYPSO kann die Maschine für Mikroskopie-Aufgaben auch mit der Software ZEISS ZEN core verwendet werden. ​

Unser größtes Mikroskop
MIKROSKOPIE

Unser größtes Mikroskop

Große Teile im Ganzen inspizieren

Bauteile zerschneiden war gestern: Die optische Inspektion von großen Werkstücken wie Leiterplatten, Brennstoffzellen oder Batterien ist nun ohne vorherige Bearbeitung möglich. Das schont wertvolle Ressourcen, spart Zeit und verringert Fehlerquellen, die durch das Hin- und Herbewegen der Proben zwischen verschiedenen Systemen entstehen. ​

Neben der Inspektion von großen Teilen eignet sich ZEISS O-INSPECT duo auch für die automatisierte Prüfung vieler kleiner Teile. So wird nur einmal Zeit zum Bestücken des Messmikroskops benötigt – die Inspektion selbst erfolgt dann in einem Schritt ohne Wechseln der einzelnen Proben.

Hochauflösende 5 MP Farbkamera
MIKROSKOPIE

Hochauflösende 5 MP Farbkamera

Defekte präzise erkennen und analysieren

Während Schwarz-Weiß-Bilder in der Messtechnik für hohe Kontrastunterschiede sorgen, bieten Farbbilder einen Vorteil in der mikroskopischen Analyse: Mit 5 Megapixel Bildauflösung in Farbe werden selbst kleine Defekte klar abgebildet und ermöglichen eine präzise Inspektion und Auswertung. Für die Steuerung kann ZEISS O-INSPECT duo hierfür mit der gewohnten Mikroskopie-Software ZEISS ZEN core verwendet werden.

Entdecken Sie die Funktionen von ZEISS O-INSPECT duo​

Entdecken Sie die Funktionen von ZEISS O-INSPECT duo
Großes Sichtfeld mit hoher Bildschärfe

Der ZEISS Discovery.V12 scout 160 c Kamerasensor mit 5 MP sorgt für eine hohe Auflösung und ermöglicht durch den 12-fach Zoom die Visualisierung von kleinsten Details und Strukturen. Durch das große Sichtfeld von 16,1 x 12 mm werden mehr Informationen pro Bild dargestellt. Die Farbkamera ermöglicht präzise mikroskopische Analyse und sorgt gleichzeitig durch die hohe Auflösung von 5 MP für unverändert präzise Ergebnisse in der Messtechnik.

Beleuchtung

Das Ringlicht besteht aus einem inneren und äußeren Ring mit weißen LEDs, die in 16 Segmenten einzeln angesteuert werden können. Zudem verfügt das Gerät über koaxiales Auflicht und Durchlicht, wodurch eine Vielzahl an Anwendungen ermöglicht wird.

Schnelle & präzise taktile Messungen

ZEISS VAST XXT ermöglicht ein sehr genaues Scannen, indem eine große Anzahl von Messpunkten in einer einzigen Bewegung aufgenommen wird und bietet Genauigkeiten ab 1,5 µm + L/250 µm.

Großer Messbereich

Der Messbereich von 800 x 600 x 300 mm ermöglicht die Messung und Inspektion von großen Bauteilen bis zu 100 kg Gewicht, ohne diese zerschneiden oder zerstören zu müssen. Alternativ können dank der großen Messfläche auch viele kleine Teile gleichzeitig, automatisiert inspiziert werden.

2 Software Produkte

Für Messtechnik-Anwendungen bietet ZEISS CALYPSO zeitsparende Visualisierungsoptionen: CAD-Modelle können überlagert angezeigt und mögliche Abweichungen (zwischen IST- und SOLL-Werten) schnell erkannt werden. Dank einer Reihe optionaler Erweiterungen bietet ZEISS CALYPSO auch für spezielle Anforderungen die passenden Werkzeuge. ZEISS ZEN core ist die Inspektionssoftware für die industrielle Mikroskopie: Neben klassischem Imaging umfasst die Software-Suite auch Bildgebungs-, Segmentierungs-, Analyse- und Datenkonnektivitätstools für die multimodale Mikroskopie in vernetzten Materiallaboren und der Produktion.

Professionelle Messprotokolle

ZEISS PiWeb reporting ermöglicht eine Dokumentation und Visualisierung der Messdaten mit nur einem Klick. Das bietet Ihnen wertvolle Aussagen zu Ihren Teilen und Prozessen.

Optimale Kontraste

ZEISS O-INSPECT duo bietet neben koaxialem Auflicht und Durchlicht auch verschiedene Steuerungsoptionen des Ringlichts an. So können die inneren und äußeren LED-Ringe separat ein- bzw. ausgeschalten werden, oder nur in einzelnen Segmenten aktiviert werden.
Analyse von Membranen, Zusammensetzungen, Dichtungen, Beschichtungen und festen Materialien

Innere und äußere LEDs

Das Ringlicht setzt sich aus inneren und äußeren LEDs in weißer Farbe zusammen. Die Kombination aus inneren und äußeren LEDs führt zu einer maximalen Ausleuchtung Ihres Werkstücks.

Innere LEDs

Innere LEDs

Das innere Ringlicht erhöht Kontraste in der Oberflächentextur und verbessert so zum Beispiel die Fokussierung – für noch präzisere Messergebnisse.

Äußere LEDs

Äußere LEDs​

Die LEDs des äußeren Ringlichts ermöglichen es, störendes Umgebungslicht auszufiltern und somit zum Beispiel farbige Materialien kontraststark zu beleuchten.

Segment-Beleuchtung

Segment-Beleuchtung

Die Ringlicht besteht aus 16 Segmenten, die einzeln angesteuert werden können. Das sorgt für eine optimierte Beleuchtung je nach Beschaffenheit Ihres Werkstücks.

Ergonomisch und praktisch zu bedienen

ZEISS O-INSPECT duo hat nicht nur die höchsten technischen Ansprüche an Qualität, Verlässlichkeit und Geschwindigkeit – auch die sichere, ergonomische und einfache Bedienbarkeit des Produkts muss gegeben sein. Die technische Exzellenz der Komponenten kommt nur zum Tragen, wenn das Produkt ordnungsgemäß und frustrationsfrei bedient werden kann. Dafür wurde ZEISS O-INSPECT duo mit hilfreichen Features ausgestattet.
Optionale Paletten

Optionale Paletten

ZEISS O-INSPECT duo bietet vielfältige Zubehörmöglichkeiten. Die optionale Palette ist für flache Werkstücke geeignet und ermöglicht den einfachen Transport sowie eine sichere Fixierung auf der Maschine.

Einfahrmöglichkeit

Einfahrmöglichkeit

Dank der Einfahrmöglichkeit durch die Entfernung einer vorderen Abdeckung kann ZEISS O-INSPECT duo unkompliziert mittels Hubwagen an den gewünschten Aufstellort transportiert und ideal positioniert werden.

Bedienpult-Halterung

Bedienpult-Halterung

Die Halterung des Bedienpanels kann flexibel an jeder beliebigen Seite des Messgeräts angebracht werden und sorgt so für optimale Zugänglichkeit und Bedienbarkeit.

CALYPSO oder ZEN core? Beides.

ZEISS O-INSPECT duo verfügt über zwei dedizierte Software-Programme mit spezifischen Funktionen für Aufgabenstellungen in der Mikroskopie und Metrologie. Bediener aus dem jeweiligen Bereich müssen somit keine neue Software erlernen.
ZEISS CALYPSO für eine optimierte Qualitätskontrolle

ZEISS CALYPSO für eine optimierte Qualitätskontrolle

In Kombination mit ZEISS CALYPSO entfalten die Koordinatenmessgeräte von ZEISS ihr volles Potenzial. Optimieren Sie Ihre Qualitätskontrolle: Die Software unterstützt Sie vor, während und nach der Messung. Mit vielfältigen Funktionen messen und analysieren Sie Ihre Werkstücke und holen so das Optimum aus Ihrem Koordinatenmessgerät heraus.

    • Automatische Erstellung von Prüfplänen aus PMI: ZEISS CALYPSO generiert automatisch Prüfpläne aus PMI-Daten und erstellt alle relevanten Merkmale und Eigenschaften.
    • Versionierung von verschiedenen Prüfplanvarianten: Sie können alle Arbeitsschritte zurückverfolgen, da verschiedenen Prüfplanvarianten versioniert sind. Sie müssen dazu nicht mit zahlreichen Kopien arbeiten: Die Verwaltung erfolgt direkt im Prüfplan.
    • Messstrategien anwenden und optimieren: Das integrierte Erzeugungstool dient für Messstrategien zur Anwendung unternehmensspezifischer Messstrategien oder zum Optimieren Ihre Prüfpläne basierend auf Empfehlungen von ZEISS.
    • Starke Messergebnisvisualisierung: Mit ZEISS PiWeb reporting bietet Ihnen ZEISS CALYPSO eine eingebundene professionelle Protokollgestaltung, um Messergebnisse aussagekräftig zu visualisieren.
    Multimodale, vernetzte Mikroskopie mit ZEISS ZEN core

    Multimodale, vernetzte Mikroskopie mit ZEISS ZEN core

    ZEN core kann mehr als nur Mikroskopie-Imaging: Diese Software ist die umfangreichste Lösung für Bildgebung, Segmentierung, Analyse und Datenkonnektivität in der multimodalen Mikroskopie in vernetzten Materiallaboren. Zudem bietet sie umfangreiche Funktionen wie Abkacheln, Stitching und automatische Fehlererkennung.

      • Eine Schnittstelle für alle ZEISS Mikroskope: ZEN core bietet eine einheitliche Benutzeroberfläche für alle ZEISS Mikroskope und Kameras. Arbeiten Sie in multimodalen Workflows, um auf alle Bildgebungs- und Analysedaten ihrer Geräte zuzugreifen.
      • Erweiterte Bildgebung und automatisierte Analyse: ZEN core ist Ihre Kommandozentrale für die Einrichtung von automatisierten Bildgebungs-, Segmentierungs- und Analysefunktionen zusammengesetzter Lichtmikroskope.
      • Infrastrukturlösungen für das vernetzte Labor: ZEN core stellt die Infrastruktur für vernetzte Laborumgebungen bereit und führt alle Ihre ZEISS Bildgebungs- und Mikroskopielösungen in einer einheitlichen Benutzeroberfläche zusammen.

      Technische Daten

      Größe

      8/6/3

      Kamera

      ZEISS Discovery.V12 scout 160 c, 5 MP Farbkamera, 2646 x 2056 pixel

      Beleuchtung

      16 Segment LED Ringlicht mit weißen LEDs, koaxialem Auflicht und Durchlicht

      Arbeitsabstand in mm

      55

      Mechanischer Zoom

      12 x

      Sichtfeld max. in mm

      16,1 x 12

      Kompatibler taktiler Messkopf

      ZEISS VAST XXT – TL1/TL3

      Tragkraft

      100 kg

      Genauigkeit taktil und optisch

      1D: 1,5 μm + L/250

      2D: 1,8 μm + L/250 μm

      3D: 2,2 μm + L/250 μm

      Software

      ZEISS CALYPSO (für messtechnische Aufgaben)

      ZEISS ZEN core (für mikroskopische Aufgaben)

      Applikationsbeispiele

      In den Applikationsvideos erfahren Sie, wie Werkstücke aus verschiedenen Bereichen, wie beispielsweise medizinsche Kunststoffe, Bipolarplatten oder Leiterplatten mit ZEISS O-INSPECT duo gemessen und inspiziert werden können.

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        Messung und Inspektion von elektronischen Komponenten mit ZEISS O-INSPECT duo

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        Messung und Inspektion von Bipolarplatten mit ZEISS O-INSPECT duo

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        Messung und Inspektion von medizinischen Kunststoffen mit ZEISS O-INSPECT duo
      Michael Zeller

      In der Mikroskopie haben wir nun wesentlich mehr Platz, um uns Bauteile anzuschauen und brauchen keine Proben mehr zu schneiden.

      Michael Zeller

      Senior Manager Test Equipment Monitoring & Measurement Technology, Zollner Elektronik AG

      Erfahren Sie mehr in unserem Webinar zu Features, Software und Best-Practices

      In dieser Aufzeichnung erleben Sie ZEISS O-INSPECT duo in Action und erhalten wertvolle Einblicke von unseren Produktmanagern, sowie Software-Demonstrationen und erstes Feedback von einem unserer Pilotkunden. In diesem Webinar werden Sie lernen, wie die Kombination aus Mikroskop und Messgerät Ihre Prozesse in der Qualitätssicherung verbessert.

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      Downloads

      • Vorschaubild von ZEISS O-INSPECT duo Product Flyer EN

        ZEISS O-INSPECT duo Product Flyer EN

        Seiten: 7
        Dateigröße: 4 MB
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