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REM-SYSTEM FÜR DEN EINSTIEG

ZEISS EVO

Hochwertige Daten intuitiv erfassen – mit nur einem REM für alles.

Die Systeme der ZEISS EVO Produktfamilie kombinieren leistungsstarke Rasterelektronenmikroskopie mit einem intuitiven Bedienkonzept, das für erfahrene Anwender und Neueinsteiger gleichermaßen gut geeignet ist. Mit den umfangreichen Optionen lässt sich ZEISS EVO präzise auf Ihre Anforderungen abstimmen – für die Materialwissenschaften ebenso wie für die routinemäßige industrielle Qualitätskontrolle und Schadensanalyse.

  • Eine vielseitige Mehrzwecklösung
  • Klassenbeste Benutzerfreundlichkeit
  • Ausgezeichnete Bildqualität
  • Workflow-Automatisierung und Datenintegrität
ZEISS EVO
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ZEISS EVO für die Industrie

Erleben Sie eine neue Qualität bei der Prüfung Ihrer Proben.

ZEISS EVO ist ein klassisches Elektronmikroskop für alltägliche und repetitive Imaging-Aufgaben mit weitgehend automatisierten Workflows, wie z.B. die hochauflösende Materialanalyse. Ausgestattet mit Wolfram- oder LaB6 -Elektronenquellen bietet ZEISS EVO die notwendige Flexibilität für alle Arten von einfacheren Strukturgrößen.

Anwendungsfelder auf einen Blick

  • Qualitätsanalyse und Qualitätskontrolle
  • Schadensanalyse und Fraktographie
  • Materialographie
  • Technische Sauberkeitsprüfung
  • Morphologische und chemische Analyse von Partikeln nach ISO 16232 und VDA 19 Teil 1 und 2
  • Analyse von metallischen und nichtmetallischen Einschlüssen und Phasen 

ZEISS EVO: Hochwertige Daten intuitiv erfassen – mit nur einem EM für alles

Erleben Sie eine neue Qualität bei der Prüfung Ihrer Proben. Bei ZEISS EVO stehen Ihnen eine Reihe an Konfigurationsoptionen zur Verfügung. So können Sie sich genau das System zusammenstellen, das Ihren Anforderungen entspricht – sowohl im Bezug auf die Leistung als auch auf Ihr Budget. Sie haben die Wahl zwischen drei Kammergrößen und können dazu die Auflösung konfigurieren, die zu Ihrer Anwendung passt.

Darüber hinaus können Sie auch Modi für Hochvakuum oder variablen Druck auswählen, je nach den von Ihnen untersuchten Proben. Um das System auf Ihre Anwendung zuzuschneiden, können Sie außerdem zwischen SE-, BSE-, EDX-, VP- und C2D-Detektoren wählen. Mit ZEISS EVO kommen Sie zum erschwinglichen Preis in den vollen Genuss der Vorteile der Rasterelektronenmikroskopie.

Anwendungsbeispiele

  • Elektronik

    Verunreinigung an Oberfläche: Zu sehen sind hier deutlich erkennbare Verschmutzungen und Fremdkörper auf der Oberfläche an einer integrierten Schaltung. Abgebildet mit dem SE-Detektor im Hochvakuum bei 10 kV.

  • Brennstoffzelle

    Brennstoffzellen bestehen üblicherweise aus Platinelektroden, zwischen denen Polymerelektrolytmembranen liegen. Die kritischen Bauteile müssen bei niedrigen Spannungen abgebildet werden, um präzise Oberflächeninformationen in hoher Auflösung zu erhalten. Querschnitt mit LaB6-Quelle (links) und Wolfram-Quelle (rechts) bei 3 kV. Die LaB6-Quelle liefert mehr Oberflächeninformationen, bei niedriger Beschleunigungsspannung.

  • Verzinkter Weichstahl

    Querschnitt von verzinktem Weichstahl, abgebildet mit dem SE-Detektor auf ZEISS EVO 15. Links: Gießharz; Mitte: Zinkschicht; rechts: Weichstahl.

  • Materialanalyse mittels Röntgenspektroskopie (EDX)

    BSE-Bilder von repräsentativen korrodierten Oberflächen mit EDX-Elementverteilung: Chrom, Blei, Kupfer, Nickel, Kohlenstoff und Sauerstoff.

  • Schadensanalyse an der Oberfläche eines Kugellagers

    Die Oberfläche eines Kugellagers mit Rissen und Abplatzungen in der Struktur. Abgebildet mit dem BSE-Detektor.

  • Technische Sauberkeit

    Partikel eines Partikelfilters: technische Sauberkeitsanalyse und Qualitätskontrolle.

ZEISS EVO Rasterelektronenmikroskop – 10 Highlights in 90 Sekunden

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    Erfahren Sie, wie das Rasterelektronenmikroskop ZEISS EVO Ihre routinemäßigen Inspektions- und Schadensanalyseaufgaben in Qualitäts- und Materiallaboren unterstützt, indem es selbst für unerfahrene Anwender eine intuitive Bildgebung ermöglicht. EVO Highlights:- Hochauflösende Bildgebung - Effiziente Bedienung - Analyse der chemischen Zusammensetzung - Große Werkstücke - Großflächige Bilderfassung - Nicht-leitende Proben - EDX-Partikelanalyse - Automatisierte Messungen - Intelligente Bildsegmentierung - Bildkorrelation und gemeinsame Nutzung

Weitere Anwendungen in der Industrie:

 
  • Analyse von Phasen, Partikeln und Schweißnähten
  • Untersuchung von Schweißnähten und Wärmeinflusszonen.
  • Analyse von intermetallischen Phasen und Phasenübergängen
  • Sichtprüfung von elektronischen Komponenten, integrierten Schaltungen, MEMS und Solarzellen
  • Untersuchung von Kupferdrahtoberflächen und deren Kristallstrukturen
  • Korrosionsprüfung an metallischen Proben
  • Imaging und Analyse von Mikrorissen und Bruchfestigkeit
  • Untersuchungen an Beschichtungen und Verbundwerkstoffen

Im Fall der Fälle finden wir nur mit ZEISS EVO die Nadel im Heuhaufen.

Johannes Bachmann, ist der Experte für Materialanalysen bei der INNIO Group. Erfahren Sie mehr über die Story im Flyer "Die Nadel im Heuhaufen finden."

Die Nadel im Heuhaufen finden.

Technische Sauberkeit: die INNIO Group analysiert mit ZEISS Lösung chemische Zusammensetzung von Restschmutzpartikeln

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Genaue, zuverlässige Ergebnisse sind natürlich wichtig, aber ebenso, diese schnell zu erhalten,

sagt Thomas Schaupp, Laborleiter des akkreditierten Werkstofflabors SPC. Erfahren Sie, wie ZEISS EVO und die korrelative Mikroskopie von ZEISS dem Prüflabor helfen, 30 % schnellere Ergebnisse zu erzielen. Erfahren Sie mehr über die Story im Flyer "Stahl muss halten."

Mikroskopie-Anwendungen für die Qualitätssicherung:

Kundenbeispiele aus der Industrie für die Industrie
  • Vorschaubild von ZEISS SEM Brochure A4 DE PDF

    ZEISS SEM Brochure A4 DE PDF

    32 MB
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  • Vorschaubild von ZEISS IMS Kundenstory SPC Metallographie DE Flyer

    ZEISS IMS Kundenstory SPC Metallographie DE Flyer

    17 MB
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  • Vorschaubild von ZEISS IMS Kunden Story INNIO Group Mik TCA DE PDF

    ZEISS IMS Kunden Story INNIO Group Mik TCA DE PDF

    16 MB
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