ZEISS GeminiSEM
Höchste Probenflexibilität seiner Mikroskopklasse
Erforschen Sie das Unbekannte mit diesem Feldemissions-REM für höchste Anforderungen an Subnanometer-Imaging, Analytik und Probenflexibilität. Das System ermöglicht Analysen mit hohem Durchsatz und sorgt gleichzeitig für rasche Ergebnisse mit hervorragender Auflösung – selbst bei geringer Spannung oder hoher Sondenstromstärke.
ZEISS GeminiSEM für die Industrie
Erleben Sie eine neue Qualität bei der Prüfung Ihrer Proben
Das System ermöglicht Analysen mit hohem Durchsatz und sorgt gleichzeitig für rasche Ergebnisse mit hervorragender Auflösung – selbst bei geringer Spannung oder hoher Sondenstromstärke. Mit dem großen Sehfeld und der weiträumigen Probenkammer können auch sehr große Proben problemlos untersucht werden.
Mit ZEISS GeminiSEM charakterisieren Sie die chemische Zusammensetzung und die Kristallorientierung effizient mit zwei diametral gegenüberliegenden EDX-Anschlüssen und einer komplanaren EDX/EBSD-Konfiguration. Verlassen Sie sich auf die schnelle Erstellung von Elementverteilungsbildern ohne Abschattungen.
Personalisieren und automatisieren Sie Ihre Workflows: Wenn Sie Materialien bis an deren technische Grenzen testen müssen, dann stellt ZEISS Ihnen eine automatisierte In-situ-Test-Station für Hochtemperatur-Zugversuche zur Verfügung.
Anwendungsfelder auf einen Blick
- Schadensanalyse an nichtleitenden und spröden Materialien im Elektronik-, Medizin- und Batteriesektor
- Bruchflächenanalyse und Metallographie
- Charakterisierung von oberflächennahen Mikrostrukturen und ganzen Bauteilelementen
- Schnelle Erfassung von Elementzusammensetzung und Phasenverteilung
- Bestimmung von Verunreinigungen und Einschlüssen