ZEISS Visioner 1

ZEISS Visioner 1

Digitalmikroskop mit MALS™ Technologie: visuelle Inspektion mit erweiterter Schärfentiefe in Echtzeit

Klassische Inspektionssysteme haben oft eine geringe Schärfentiefe: Das kann dazu führen, dass die Probe teilweise unscharf abgebildet wird. In der Folge können wichtige Merkmale übersehen werden, der Benutzer ermüdet bei der Arbeit und die Inspektion verläuft unvollständig.

ZEISS Visioner 1 revolutioniert die visuelle Inspektion und Dokumentation. Mit dem einzigartigen Micro-mirror Array Lens System (MALSTM Technologie) ist es zum ersten Mal möglich, Proben vollständig scharf zu sehen – in Echtzeit. Und das sofort und immer wieder.

Erweiterte Schärfentiefe (EDoF) in Echtzeit

EDoF ist eine Methode, bei der mehrere Bilder in der Brennebene zu einem Bild kombiniert werden, das dann vollständig scharf ist.

Bei klassischen Mikroskopsystemen kann dieser Vorgang zeitaufwendig und kompliziert sein. Mit ZEISS Visioner 1 sehen Benutzer eine vollständig scharfe Probe, ohne zuvor Z-Stapel erstellen und Bildreihen nachbearbeiten zu müssen.

Das einzigartige Micro-mirror Array Lens System (MALS™ Technology) sorgt in Echtzeit für diese erweiterte Schärfentiefe (EDoF).

Die Gesetze der Optik neu definiert

Micro-mirror Array Lens System (MALS™ Technologie)

MALS™ liefert scharfe Bilder für optische Inspektionen auf Höhenunterschieden von bis zu 69 mm – ohne das optische System verfahren oder die Probe erneut fokussieren zu müssen. Mit einem Micro-mirror Array Lens System (MALS™) lassen sich unterschiedlich gekrümmte „virtuelle“ Linsen und damit unterschiedliche Fokussierebenen generieren. Dazu wird die Orientierung der einzelnen Mikrospiegel koordiniert verändert.

Durch die schnelle Krümmungsänderung dieser „virtuellen“ Linsen wird eine ultraschnelle Fokussierung und eine tiefenscharfe Visualisierung und Dokumentation in Echtzeit ermöglicht.

ZEISS Visioner 1 mit MALS™ Technologie

ZEISS Visioner 1 mit MALS™ Technologie

  • Der Fokusbereich der erweiterten Schärfentiefe ist bis zu 100-mal größer
  • Inspektionen auf Höhenunterschieden von bis zu 69 mm
  • Reflektierendes Mikrospiegel-Array mit (variablen) Krümmungen, angeordnet in einer flachen Ebene
  • Jeder Mikrospiegel misst ca. 100 x 100 µm
  • Die einzelnen Mikrospiegel drehen und verschieben sich, um optische Flächen mit variablen Krümmungen zu bilden
  • Weder Z-Stapel oder Neufokussierung nötig
Schnellste 3D-Visualisierung mit Dokumentation

Schnellste 3D-Visualisierung mit Dokumentation

ZEISS Visioner 1 vereinfacht nicht nur die Aufgaben der Bildgebung und Dokumentation – mit Echtzeit-EDoF untersuchen Sie Ihre Komponente außerdem schneller und erzielen so einen höheren Durchsatz.
  • Klassische Körperhaltung am Mikroskop

  • Ergonomische Körperhaltung am ZEISS Visioner 1

Eine Erweiterung Ihrer Sinne

Ergonomische Bedienung

Arbeiten Sie effizienter, ohne beim Blick durchs Okular zu ermüden: Sie können bei der Inspektion Ihre Hände anders nutzen, denn das Mikroskop muss nicht mehr permanent manuell nachjustiert werden.

Da alles in Echtzeit und vollständig scharf auf einem Bildschirm angezeigt wird, verläuft die Inspektion absolut organisch – das ist wie eine Erweiterung Ihrer Sinne.

Anwendungen

Bilder einer Platine und einer Nadel bei einem klassischen Inspektionsverfahren und im Vergleich dazu mit dem ZEISS Visioner 1. Mit der neuen MALS™ Technologie lassen sich Proben zum ersten Mal überhaupt vollständig scharf darstellen – und das sofort und immer wieder.

Platine

Inspektion mit klassischem Mikroskop

Platine

Inspektion mit ZEISS Visioner 1

Nadel

Inspektion mit klassischem Mikroskop

Nadel

Inspektion mit ZEISS Visioner 1

Informationen herunterladen

  • ZEISS Visioner 1 Broschüre DE

    Seiten: 7
    Dateigröße: 5 MB
  • ZEISS Visioner1 Accessories DE

    Seiten: 3
    Dateigröße: 1 MB
  • Application Note Visioner 1 Blade Inspection

    Seiten: 3
    Dateigröße: 2 MB

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