Komplexität beherrschen. Mit Mikroskopie-Lösungen von ZEISS.

Die Aufgaben in der Materialographie wandeln sich stetig, und die Leistungsanforderungen steigen. Bauteile werden immer komplexer, Beschichtungen immer dünner. Die Miniaturisierung in der Elektronik schreitet voran. Neue Verbundmaterialien ­finden insbesondere im Leichtbau Verwendung. Nachhaltige Materialien und additiv gefertigte Bauteile stellen besondere Herausforderungen an die Materialcharakterisierung. Zugleich sinken allgemein die Fehlertoleranzen, wodurch präzisere Analysen erforderlich werden. Labore zur Werkstoffprüfung müssen mit diesen Entwicklungen Schritt halten. Dabei stehen sie unter einem wachsenden Zeitdruck. ZEISS bietet Materialographen eine einzigartige Tiefe an Mikroskopen, Software und Services, um die gestellten Prüf­aufgaben effektiv zu lösen. Darüber hinaus machen es ZEISS Mikroskopie-Lösungen allen Nutzern besonders einfach, denn dank Deep-Learning-Algorithmen sind Ergebnisse verlässlicher, genauer und schneller verfügbar als jemals zuvor.

Schneller und genauer prüfen mittels Deep Learning

ZEISS ZEN core stellt eine automatisierte Bildanalyse, für die Partikel- und Phasenanalyse bereit. Deep-Learning- Methoden reduzieren bei diesen Anwendungen deutlich den Arbeitsaufwand und funktionieren nutzerunabhängig und reproduzierbar, immer nach denselben trainierten Mustern. Die Mikroskopaufnahme einer Aluminiumlegierung (l.) wird mittels Deep Learning automatisch segmentiert (r.). Der Algorithmus identifiziert verlässlich einzelne Körner. Berührende und sich überlappende Objekte können getrennt werden (Instanz-Segmentierung).

Segmentierung mit ZEISS arivis Cloud

Neueste Deep-Learning-Modelle: Automatische KI-gestützte Bestimmung der Korngrenzen einer Keramik-, einer Austernit-, einer Hartmetall- und einer Kupferprobe. Bei diesem Beispiel genügt es, ein Deep-Learning-Modell zu trainieren, um die Korngrenzen aller vier Materialien sicher zu erkennen.

Korrelation mit Licht-, Digital- und Elektronenmikroskopen

ZEN core Werkzeugpakete