ZEISS scatterControl

Herausragende CT-Bildqualität

Die Hardware-Lösung für optimierte Bildqualität

Das Modul ZEISS scatterControl verbessert die Bildqualität von CT-Scans deutlich und reduziert Streuungsartefakte auf ein Minimum. Diese Verbesserungen erleichtern die nachfolgende Datenverarbeitung und Auswertungsschritte für geeignete Teile, wodurch eine noch genauere Oberflächenbestimmung und Defektanalyse erreicht werden. Das Produkt ist ideal für großvolumige und dichte Teile wie additiv gefertigte Metallteile und Aluminiumgussteile, auch jene mit Stahleinlegern, sowie andere Baugruppen aus dichteren Materialien.

Das Modul ist für ZEISS METROTOM 1500 225kV G3 erhältlich, entweder als Nachrüstlösung oder im Rahmen des Erwerbs eines Neugerätes. Erweitern Sie Ihr System jetzt mit ZEISS scatterControl und profitieren Sie von herausragender Bildqualität und einer präzisen Datenauswertung.

Wie Sie von ZEISS scatterControl profitieren

  • Bessere Bildqualität, bessere Defekterkennung

    Das Modul reduziert die Entstehung von Artefakten, die durch Streustrahlung verursacht werden und verbessert die CT-Bildqualität maßgeblich. Der Kontrast zwischen einzelnen Komponenten wird erhöht und die Defekterkennung vereinfacht: Bereiche von Bauteilen, die bisher schwer zu beurteilen waren, können nun ausgewertet werden.

  • Verbesserte Oberflächenbestimmung

    Nicht nur die Defekterkennung, sondern auch die Gesamtqualität der Oberflächenbestimmung profitiert von ZEISS scatterControl. Dies ist ein erheblicher Vorteil für messtechnische Anwendungen an anspruchsvollen Teilen, bei denen Artefakte den Prozess der Oberflächenbestimmung stören, sofern sie nicht korrigiert werden.

  • Schnelles Scannen mit VAST-Modus

    ZEISS scatterControl arbeitet sowohl im "Stop and Go"- als auch im VAST-Modus. Die scatterControl-Lösung bietet eine überragende Bildqualität, die der Qualität von Zeilendetektoren nahekommt - jedoch mit bis zu 1000x schnelleren Scanzeiten.

  • Einfache Handhabung

    ZEISS scatterControl ist eine Ein-Klick-Lösung. Das Modul arbeitet nahtlos mit anderen hilfreichen Funktionen von METROTOM OS zusammen, wie etwa VHD (Virtual Horizontal Detector Extension), AMMAR (Advanced Mixed Material Artifact Reduction) oder VolumeMerge, und ist vollständig in die Software integriert.

ZEISS scatterControl verbessert die Defektanalyse

ZEISS scatterControl steigert die Bildqualität von CT-Scans für unterschiedlichste Teile und Industrien. Dafür gibt es klare Gründe, die von der effizienten Entfernung von Artefakten bis hin zur Positionierung des Moduls in Bezug auf das Werkstück reichen und ZEISS scatterControl zur idealen Wahl machen. Erfahren Sie in den folgenden Abschnitten, wie Sie das Modul für eine erstklassige Defekterkennung und -analyse einsetzen können.

Reduzierte Artefakte für verbesserte CT-Bildqualität

ZEISS scatterControl macht einen klaren Unterschied. Vergleichen Sie mit dem Schieberegler die Röntgenbildqualität, die mit und ohne scatterControl-Modul erreicht werden kann. Das verbesserte Bild zeigt einen höheren Kontrast und weniger Artefakte, wodurch Details viel deutlicher hervortreten.

Herausragende Qualität durch die Positionierung des Moduls

ZEISS scatterControl erreicht aufgrund des Funktionsprinzips des Moduls eine überlegene Qualität im Vergleich zu ähnlichen Produkten: Es wird zwischen der Röhre und dem Detektor positioniert. Kleinere Objekte wie dichte, additiv gefertigte Teile können vor dem Modul platziert werden, größere Objekte dahinter. Beides funktioniert einwandfrei. Darüber hinaus werden Kollisionen durch den eingebauten physischen Kollisionssensor und die intelligente Kollisionsvorhersage-Software effektiv verhindert.

Für unterschiedlichste Teile und Industrien geeignet

  • Metallguss: Massive Aluminium- oder Magnesiumteile, auch mit Stahleinlegern
  • Automobilindustrie: Gussteile mit Stahleinlegern, Leistungselektronik
  • Additive Fertigung: Dichte, metallgedruckte Teile

Verbesserte 3D-Inspektion

Verbesserungen an den Volumendaten führen zu einer wesentlich einfacheren Auswertung. 3D-Oberflächen können ohne störende Artefakte bestimmt und gerendert werden. Viele Artefakte sind typischerweise eine Folge von Streustrahlung und verursachen Pseudo-Oberflächen in 3D, die genaue Messungen verhindern.

Zuverlässige Auswertungssoftware für die Röntgenprüfung

Die ZEISS Automated Defect Detection (ZADD) Software erkennt zuverlässig selbst kleinste Fehler – für spritzgegossene, medizinische oder additiv gefertigte Bauteile und mehr.

Häufig gestellte Fragen zu ZEISS scatterControl

  • Zu den Teilen, die am meisten von ZEISS scatterControl profitieren, gehören massive Aluminium- oder Magnesiumteile, Gussteile mit Stahleinlegern, Leistungselektronik, sowie dichte und metallbedruckte Teile, um nur einige Beispiele zu nennen.

  • ZEISS scatterControl ist eine Ein-Klick-Lösung. Software- und Hardware-Kollisionsschutz sind bereits integriert, so dass Sie den Scanvorgang ohne zusätzliche Schritte starten können.

  • Ja, ZEISS scatterControl ist eine ideale Nachrüstlösung für ZEISS METROTOM 1500 G3. Um Ihren CT mit dem scatterControl Modul zu erweitern, können Updates, z.B. für METROTOM OS, erforderlich sein.

Kontakt​

Möchten Sie unsere Produkte oder Dienstleistungen näher kennenlernen? Gerne geben wir Ihnen weitere Informationen oder bieten Ihnen eine Live-Demo an, entweder online oder persönlich.​

Brauchen Sie weitere Informationen?

Nehmen Sie Kontakt mit uns auf. Unsere Experten werden sich mit Ihnen in Verbindung setzen.​

Formular wird geladen ...

/ 4
Nächster Schritt:
  • Interessensabfrage
  • Persönliche Angaben
  • Unternehmensangaben

Wenn Sie weitere Informationen zur Datenverarbeitung bei ZEISS haben möchten, lesen Sie bitte unsere Datenschutzhinweise.