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Die spiegelnde Glasfassade eines Hochhauses zeigt den Anwendungsbereich der Thin Film Metrology
Anwendungen & Branchen

Thin Film Metrology

Prozesskontrolle für großflächige Beschichtungen
  • Spektrale Reflexions- und Transmissions-Messtechnik
  • Zuverlässige prozessbegleitende Messtechnik für Prozesskontrolllösungen
  • Qualitätskontrolle der Produktion

Wir haben alles für Sie abgedeckt Zuverlässige Lösungen für Beschichtungen und Prozesse

Große Glasscheiben auf Rollen

Großflächenbeschichtung Modernste Messtechnik für modernste Materialien

Präzise optische Mess- und kompakte Spektrometersysteme für spezielle industrielle Anwendungen mit großen Oberflächen.

Großflächenbeschichtung
Futuristisches Labor. Männlicher Wissenschaftler arbeitet an seinem transparenten Computerbildschirm, ThinProcess Software auf dem Bildschirm, Batch-Verarbeitungsanwendungen

Batchproduktion Flexible Systeme zur Vereinfachung der Prozesssteuerung und Steigerung der Effizienz

Batchproduktion
moderne Verarbeitungsmaschine für Folie

Converting Berührungslose Mess- und Auswertungstechnik

Converting

Sofortiger Einblick in den Prozess Damit Sie schnell reagieren, Änderungen vornehmen und die Kontrolle behalten können

ZEISS Spektrometer-Systeme bestimmen die Farbe und Dicke von Beschichtungen sowie Transmissions- und Reflexionsspektren. So erhalten Sie einen sofortigen Einblick in den Prozess- und Produktzustand und können Beschichtungssysteme schnell in Betrieb nehmen, Produkte effizient umstellen und Ihren Prozess ständig im Auge behalten.

  • Prozesskontrolle von Beschichtungen

    Nach dem Beschichtungsprozess werden die Eigenschaften durch Messung der spektralen Transmission und/oder Reflexion bestimmt. Dies geschieht in Beschichtungskammern im Vakuum oder unter Atmosphäre. Die Werte werden sofort zur Verfügung gestellt, um gegebenenfalls Korrekturen vorzunehmen.

  • Qualitätskontrolle im Produktionsprozess

    Qualitätsparameter wie Farbe, Schichthomogenität oder Farbeindruck aus verschiedenen Blickwinkeln werden kontinuierlich und ohne Benutzereingriff gemessen und aufgezeichnet.

  • Prozessbegleitende Messtechnik

    Für die prozessbegleitende Messung von Beschichtungsparametern stehen Systeme zur Verfügung, welche sich durch hohe Messgeschwindigkeit und Genauigkeit ohne Probenjustierung auszeichnen.

  • Einbettung in das Prozessleitsystem

    Alle ThinProcess® Messsysteme speichern die Ergebnisse in einer SQL-Datenbank ab, wobei die Integration in das Prozessleitsystem über optionale Feldbusschnittstellen erfolgt. Eine Integration in MES ist ebenfalls möglich.

    ThinProcess® Familie

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